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Article cité :

RECENT DEVELOPMENTS IN THE APPLICATION OF LIQUID METAL ION SOURCES TO SIMS

A.R. WAUGH, A.R. BAYLY, M. WALLS, P. VOHRALIK, D. FATHERS

J. Phys. Colloques, 47 C2 (1986) C2-133-C2-136

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986219

PDF (1.031 MB)

Citations de cet article :

Roadmap for focused ion beam technologies

Katja Höflich, Gerhard Hobler, Frances I. Allen, Tom Wirtz, Gemma Rius, Lisa McElwee-White, Arkady V. Krasheninnikov, Matthias Schmidt, Ivo Utke, Nico Klingner, Markus Osenberg, Rosa Córdoba, Flyura Djurabekova, Ingo Manke, Philip Moll, Mariachiara Manoccio, José María De Teresa, Lothar Bischoff, Johann Michler, Olivier De Castro, Anne Delobbe, Peter Dunne, Oleksandr V. Dobrovolskiy, Natalie Frese, Armin Gölzhäuser, et al.
Applied Physics Reviews 10 (4) (2023)
https://doi.org/10.1063/5.0162597

Focused ion‐beam milling of a submicrometer aperture for a hydrodynamic Josephson‐effect experiment

P. Sudraud, P. Ballongue, E. Varoquaux and O. Avenel
Journal of Applied Physics 62 (6) 2163 (1987)
https://doi.org/10.1063/1.339517