INTENSITY CORRELATIONS IN MICRODIFFRACTION FROM "AMORPHOUS" MATERIALS
J. Phys. Colloques, 46 C9 (1985) C9-59-C9-62
Article cité par
La fonctionnalité Article cité par… liste les citations d'un article. Ces citations proviennent de la base de données des articles de EDP Sciences, ainsi que des bases de données d'autres éditeurs participant au programme CrossRef Cited-by Linking Program. Vous pouvez définir une alerte courriel pour être prévenu de la parution d'un nouvel article citant " cet article (voir sur la page du résumé de l'article le menu à droite).
Article cité :
Citations de cet article :
Probing local order in glasses from limited-volume electron and x-ray diffraction
A C Y Liu, R F Tabor, L Bourgeois, et al.Journal of Statistical Mechanics: Theory and Experiment 2016 (5) 054046 (2016)
https://doi.org/10.1088/1742-5468/2016/05/054046
Speckle Suppression by Decoherence in Fluctuation Electron Microscopy
Aram Rezikyan, Zechariah J. Jibben, Bryan A. Rock, et al.Microscopy and Microanalysis 21 (6) 1455 (2015)
https://doi.org/10.1017/S1431927615015135
Application of electron optical techniques to the study of amorphous materials
A. HowiePhilosophical Magazine 90 (35-36) 4647 (2010)
https://doi.org/10.1080/14786431003636105
Substantial Crystalline Topology in Amorphous Silicon
J. M. Gibson, M. M. J. Treacy, T. Sun and N. J. ZaluzecPhysical Review Letters 105 (12) (2010)
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.105.125504
A report on speckle and coherent diffraction phenomena in selected-area transmission electron diffraction patterns
A.C. DaykinUltramicroscopy 55 (2) 121 (1994)
https://doi.org/10.1016/0304-3991(94)90163-5