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Modifying single-crystalline silicon by femtosecond laser pulses: an analysis by micro Raman spectroscopy, scanning laser microscopy and atomic force microscopy

J Bonse, K.-W Brzezinka and A.J Meixner
Applied Surface Science 221 (1-4) 215 (2004)
https://doi.org/10.1016/S0169-4332(03)00881-X

Scanning Force Microscopic Investigations of the Femtosecond Laser Pulse Irradiation of Indium Phosphide in Air

J. Bonse, M. Munz and H. Sturm
IEEE Transactions On Nanotechnology 3 (3) 358 (2004)
https://doi.org/10.1109/TNANO.2004.828574