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Dislocation contrast in cathodoluminescence and electron-beam induced current maps on GaN(0 0 0 1)
Karl K Sabelfeld, Vladimir M Kaganer, Carsten Pfüller and Oliver Brandt Journal of Physics D: Applied Physics 50(40) 405101 (2017) https://doi.org/10.1088/1361-6463/aa85c8
Modeling the effect of dislocations on the minority carrier diffusion length of a semiconductor