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Crystallization and microstructure evolution of nanoscale NiTi thin films prepared by biased target ion beam deposition
Huilong Hou, Reginald F. Hamilton and Mark W. Horn Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 34(1) (2016) https://doi.org/10.1116/1.4936392