DÉTERMINATION DU PROFIL DES PORTEURS LIBRES DANS DU Si IMPLANTÉ PAR RÉFLECTIVITÉ INFRAROUGE R. BENNACEUR, Y. GEFFROY, C. SEBENNE and M. BALKANSKI J. Phys. Colloques, 34 C5 (1973) C5-39-C5-41 DOI: 10.1051/jphyscol:1973509