Supplément au Journal de Physique Colloques

A MICROWAVE METHOD FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF THE LIFETIME OF FREE CARRIERS IN SILICON WAFERS

T. OTAREDIAN, S. MIDDELHOEK et M.J.J. THEUNISSEN

J. Phys. Colloques, 49 C4 (1988) C4-145-C4-148

DOI: 10.1051/jphyscol:1988428

T. OTAREDIAN

S. MIDDELHOEK

M.J.J. THEUNISSEN

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