LA MICROSCOPIE ACOUSTIQUE ET SES APPLICATIONS AUX DEFAUTS DANS LES SEMICONDUCTEURS J. Attal, J.M. Dandonneau, M. Zahouni et Ly Cong Can J. Phys. Colloques, 44 C4 (1983) C4-479-C4-483 DOI: 10.1051/jphyscol:1983458