Supplément au Journal de Physique Colloques

RAMAN SPECTROSCOPY CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE GaP THIN FILMS GROWN BY MO-CVD PROCESS USING [Et₂Ga - PEt₂]₃ AS ONLY SOURCE

F. Maury, M. Combes, G. Constant, R. Carles et J.B. Renucci

J. Phys. Colloques, 43 C1 (1982) C1-347-C1-352

DOI: 10.1051/jphyscol:1982146

F. Maury

M. Combes

G. Constant

R. Carles

J.B. Renucci

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