APPORT DE LA MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE SOUS INCIDENCE RASANTE À L'ÉTUDE DES SURFACES, APPLICATION AU LAITON 70/30 E. Darque-Ceretti, M. Y. Perrin et F. DelamareJ. Phys. Colloques, 45 C2 (1984) C2-361-C2-365DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984282
