LA MICROSCOPIE ACOUSTIQUE ET SES APPLICATIONS AUX DEFAUTS DANS LES SEMICONDUCTEURS J. Attal, J. M. Dandonneau, M. Zahouni et Ly Cong CanJ. Phys. Colloques, 44 C4 (1983) C4-479-C4-483DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1983458
