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ÉTUDE DE LA RÉPARTITION DES IONS ET DES DÉFAUTS CRÉÉS PAR IMPLANTATION DANS LES SEMI-CONDUCTEURS PAR INTERFÉROMÉTRIE INFRAROUGE

J. Phys. Colloques, 34 C5 (1973) C5-35-C5-38
DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1973508