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Article cité :

On the chemical composition of TiAlN thin films - Comparison of ion beam analysis and laser-assisted atom probe tomography with varying laser pulse energy

Marcus Hans and Jochen M. Schneider
Thin Solid Films 688 137251 (2019)
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2019.04.026

Evaluation of Analysis Conditions for Laser-Pulsed Atom Probe Tomography: Example of Cemented Tungsten Carbide

Zirong Peng, Pyuck-Pa Choi, Baptiste Gault and Dierk Raabe
Microscopy and Microanalysis 23 (2) 431 (2017)
https://doi.org/10.1017/S1431927616012654