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Article cité :

MULTILAYERS AND LOW ANGLE NEUTRON SCATTERING

M. VERGNAT, C. DUFOUR, A. BRUSON, S. HOUSSAINI, G. MARCHAL, Ph. MANGIN, J.J. RHYNE, R. ERWIN, C. VETTIER

J. Phys. Colloques, 50 C7 (1989) C7-207-C7-212

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989722

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Citations de cet article :

The study of the oxidation of thin Ti films by neutron reflectometry

V A Matveev, N K Pleshanov, A P Bulkin and V G Syromyatnikov
Journal of Physics: Conference Series 340 012086 (2012)
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Experimental verification of the applicability of a new method for improving polarizing neutron coatings

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Observation of difference in nuclear and magnetic roughness in CoFe/TiZr multilayers by polarized neutron reflectometry

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Interpretation of transmission electron microscope images of amorphous silicon/germanium and silicon/iron multilayers

P. Donovan, B. George, A. Bruson, et al.
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