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Article cité :

Surface analysis of floatglass by means of x‐ray absorption, reflection, and fluorescence analysis

Martin Hüppauff and Bruno Lengeler
Journal of Applied Physics 75 (2) 785 (1994)
https://doi.org/10.1063/1.356430

A numerical simulation of total reflection X-ray photoelectron spectroscopy (TRXPS)

Jun Kawai, Michio Takami, Masanori Fujinami, et al.
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 47 (8) 983 (1992)
https://doi.org/10.1016/0584-8547(92)80092-U