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Article cité :

ELECTRON AND OPTICAL BEAM TESTING OF INTEGRATED CIRCUITS

J.-P. COLLIN

J. Phys. Colloques, 50 C6 (1989) C6-129-C6-143

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989611

PDF (2.038 MB)

Citations de cet article :

Photoemission sources and beam blankers for ultrafast electron microscopy

Lixin Zhang, Jacob P. Hoogenboom, Ben Cook and Pieter Kruit
Structural Dynamics 6 (5) (2019)
https://doi.org/10.1063/1.5117058

Nonstoichiometry and decomposition of La1+zBa2−zCu3Oy and La4BaCu5O13−w

T.B. Lindemer, E.D. Specht, C.S. MacDougall, G.M. Taylor and S.L. Pye
Physica C: Superconductivity 216 (1-2) 99 (1993)
https://doi.org/10.1016/0921-4534(93)90639-8