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Article cité :

First Data from a Commercial Local Electrode Atom Probe (LEAP)

Thomas F. Kelly, Tye T. Gribb, Jesse D. Olson, et al.
Microscopy and Microanalysis 10 (3) 373 (2004)
https://doi.org/10.1017/S1431927604040565

The tomographic atom probe: A quantitative three‐dimensional nanoanalytical instrument on an atomic scale

D. Blavette, B. Deconihout, A. Bostel, et al.
Review of Scientific Instruments 64 (10) 2911 (1993)
https://doi.org/10.1063/1.1144382

Application of position sensitive atom probe to the study of the microchemistry and morphology of quantum well interfaces

J. A. Liddle, A. G. Norman, A. Cerezo and C. R. M. Grovenor
Applied Physics Letters 54 (16) 1555 (1989)
https://doi.org/10.1063/1.101328