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Article cité :

BISMUTH SEGREGATION IN Cu-Bi BICRYSTALS

M. MENYHARD, B. BLUM, C.J. McMAHON, Jr., S. CHIKWAMBANI, J . WEERTMAN

J. Phys. Colloques, 49 C5 (1988) C5-457-C5-462

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1988556

PDF (2.685 MB)

Citations de cet article :

Partial Segregation of Bi and Microvoid Formation on a Pure Cu Substrate After Solid–Solid Reactions

Yi-Wun Wang, Hua-Tui Liang, Kai-Chia Chang, Guo-Wei Wu, Tzu-Ting Tseng and Yi Chen
Journal of Electronic Materials 52 (6) 4000 (2023)
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Auger Electron Spectroscopical Investigation of Interfacial Segregation in the Cu-Bi System

Gabriel A. López and Eric J. Mittemeijer
Defect and Diffusion Forum 237-240 1141 (2005)
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/DDF.237-240.1141

Molecular dynamic study of grain boundary embrittlement for [101] tilt copper bicrystals induced by bismuth segregation

Ba-yi Peng, Xi-jun Wu, Fu-xin Zhou and Qi-heng Tang
Journal of Applied Physics 71 (3) 1229 (1992)
https://doi.org/10.1063/1.351293