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Article cité :

OPERATION OF MAJORITY AND MINORITY CARRIER MOSFET'S AT LIQUID HELIUM TEMPERATURE

B. DIERICKX, E. SIMOEN, J. VERMEIREN, C. CLAEYS

J. Phys. Colloques, 49 C4 (1988) C4-741-C4-744

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:19884154

PDF (1.634 MB)

Citations de cet article :

The charge transport in a silicon resistor at liquid‐helium temperatures

E. Simoen, B. Dierickx, L. Deferm, C. Claeys and G. Declerck
Journal of Applied Physics 68 (8) 4091 (1990)
https://doi.org/10.1063/1.346248

Freeze-out effects on NMOS transistor characteristics at 4.2 K

E. Simoen, B. Dierickx, L. Warmerdam, J. Vermeiren and C. Claeys
IEEE Transactions on Electron Devices 36 (6) 1155 (1989)
https://doi.org/10.1109/16.24362