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X–ray absorption fine structure (XAFS) of Si wafer measured using total reflection X–rays

Jun Kawai, Shinjiro Hayakawa, Yoshinori Kitajima and Yohichi Gohshi
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 54 (1) 215 (1999)
https://doi.org/10.1016/S0584-8547(98)00209-2

Structure determination of metastable epitaxial Cu layers on Ag(001) by glancing-incidence x-ray-absorption fine structure

D. T. Jiang, E. D. Crozier and B. Heinrich
Physical Review B 44 (12) 6401 (1991)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.44.6401

A gas-flow electron yield detector for glancing-incidence EXAFS

D.T. Jiang and E.D. Crozier
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment 294 (3) 666 (1990)
https://doi.org/10.1016/0168-9002(90)90311-S

Angular scanning stage for glancing‐incidence surface EXAFS

D. T. Jiang, N. Alberding, A. J. Seary and E. D. Crozier
Review of Scientific Instruments 59 (1) 60 (1988)
https://doi.org/10.1063/1.1139966