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X–ray absorption fine structure (XAFS) of Si wafer measured using total reflection X–rays

Jun Kawai, Shinjiro Hayakawa, Yoshinori Kitajima and Yohichi Gohshi
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 54 (1) 215 (1999)
https://doi.org/10.1016/S0584-8547(98)00209-2

Structure determination of metastable epitaxial Cu layers on Ag(001) by glancing-incidence x-ray-absorption fine structure

D. Jiang, E. Crozier and B. Heinrich
Physical Review B 44 (12) 6401 (1991)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.44.6401

Glancing-angle extended x-ray-absorption fine structure and reflectivity studies of interfacial regions

S. Heald, H. Chen and J. Tranquada
Physical Review B 38 (2) 1016 (1988)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.38.1016