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Article cité :

A COMBINED TEM/FIM EXAMINATION OF FIELD EMISSION AS A FIM SPECIMEN PREPARATION TECHNIQUE

M.G. BURKE, D.D. SIELOFF, S.S. BRENNER

J. Phys. Colloques, 47 C7 (1986) C7-459-C7-462

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986777

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Citations de cet article :

Low cost electrical probe station using etched tungsten nanoprobes: role of cathode geometry

Rakesh K Prasad and Dilip K Singh
Nano Express 1 (2) 020042 (2020)
https://doi.org/10.1088/2632-959X/abb6c4

Fabrication of Sharp Gold Tips by Three-Electrode Electrochemical Etching with High Controllability and Reproducibility

Bo Yang, Emiko Kazuma, Yasuyuki Yokota and Yousoo Kim
The Journal of Physical Chemistry C 122 (29) 16950 (2018)
https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.8b04078