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Article cité :

CHARACTERIZATION OF ENHANCED FIELD EMISSION SITES ON NIOBIUM SURFACES DUE TO HEAT TREATMENT

N. SANKARRAMAN, Ph. NIEDERMANN, R.J. NOER, O. FISCHER

J. Phys. Colloques, 47 C7 (1986) C7-133-C7-138

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986724

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Citations de cet article :

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H.C. Miller
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Field emission from a metal covered with a semiconducting layer: A model calculation

A. Kiejna, Ph. Niedermann and �. Fischer
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Application of a scanning tunneling microscope to field emission studies

P. Niedermann and O. Fischer
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