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A model to predict image formation in the three-dimensional field ion microscope

Benjamin Klaes, Rodrigue Lardé, Fabien Delaroche, et al.
Computer Physics Communications 260 107317 (2021)
https://doi.org/10.1016/j.cpc.2020.107317

Optimizing Atom Probe Analysis with Synchronous Laser Pulsing and Voltage Pulsing

Lu Zhao, Antoine Normand, Jonathan Houard, et al.
Microscopy and Microanalysis 23 (2) 221 (2017)
https://doi.org/10.1017/S1431927616012666

A Meshless Algorithm to Model Field Evaporation in Atom Probe Tomography

Nicolas Rolland, François Vurpillot, Sébastien Duguay and Didier Blavette
Microscopy and Microanalysis 21 (6) 1649 (2015)
https://doi.org/10.1017/S1431927615015184