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Article cité :

THE DEVELOPMENT OF A FULL PROFILE ANALYSIS OF SINGLE-CRYSTAL X-RAY DIFFRACTION DATA

D.J. THOMAS

J. Phys. Colloques, 47 C5 (1986) C5-69-C5-73

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986509

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Citations de cet article :

A Comparative Study of X ray Diffraction Pattern Obtaining Methods for Portable Diffractometer

Fang Gong, Xiaoyong Ni, Dianhong Wang and Xingfeng Guo
Journal of Software 12 (12) 914 (2017)
https://doi.org/10.17706/jsw.12.12.914-922

Calibrating an area-detector diffractometer: integral response

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Calibrating an area-detector diffractometer: imaging geometry

Proceedings of the Royal Society of London. A. Mathematical and Physical Sciences 425 (1868) 129 (1989)
https://doi.org/10.1098/rspa.1989.0102