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Article cité :

EFFECT OF FIELD-EVAPORATION RATE ON QUANTITATIVE ATOM-PROBE ANALYSIS

A. WAGNER, D.N. SEIDMAN

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Citations de cet article :

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Automatic temperature‐controlled helium‐vapor cryostat for atom‐probe field‐ion microscopy studies

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Reply to comment by H. Numakura: On the quantitative analysis of nanometer diameter MgO precipitates via atom-probe field-ion microscopy

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New time‐of‐flight electronics for atom‐probe field‐ion microscopy

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Systematic procedures for atom‐probe field‐ion microscopy studies of grain boundary segregation

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