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Article cité :

MASS ANALYSIS OF GaAs AND GaP BY THE COMBINED ATOM-PROBE

O. NISHIKAWA, E. NOMURA, H. KAWADA, K. OIDA

J. Phys. Colloques, 47 C2 (1986) C2-297-C2-302

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986245

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Citations de cet article :

Acquisition of field ion microscope image using deflector during atom probe analysis

Masahiro Taniguchi, Yasuo Yamauchi and Kenji Yoshikawa
Journal of Vacuum Science & Technology B 41 (4) (2023)
https://doi.org/10.1116/6.0002607