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Article cité :

ACCURACY, REPRODUCIBILITY AND SCOPE FOR X-RAY MICROANALYSIS WITH Si(Li) DETECTORS

P.J. Statham

J. Phys. Colloques, 45 C2 (1984) C2-175-C2-180

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984240

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Citations de cet article :

Electron probe microanalysis using soft X‐rays – a review. Part 1: Instrumentation, spectrum processing and detection sensitivity

G. Love and V. D. Scott
Journal of Microscopy 201 (1) 1 (2001)
https://doi.org/10.1046/j.1365-2818.2001.00789.x

Evaluation of spectrum overlap correction in energy‐dispersive x‐ray spectrometry using the digital filter deconvolution procedure: Application to selected interferences encountered in the microprobe analysis of minerals

Philip J. Potts and Andrew G. Tindle
X-Ray Spectrometry 20 (3) 119 (1991)
https://doi.org/10.1002/xrs.1300200305