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Article cité :

ON THE ACCURACY OF ELLIPSOMETRIC THICKNESS DETERMINATIONS FOR VERY THIN FILMS

D. Chandler-Horowitz, G.A. Candela

J. Phys. Colloques, 44 C10 (1983) C10-23-C10-26

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:19831003

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Citations de cet article :

Temperature-Dependent Spectroscopic Ellipsometry of Thin Polymer Films

Barbara Hajduk, Henryk Bednarski and Barbara Trzebicka
The Journal of Physical Chemistry B 124 (16) 3229 (2020)
https://doi.org/10.1021/acs.jpcb.9b11863

Measurement of the thickness of the surface layer on amorphous Ge films using spectroscopic ellipsometry: validity of effective medium modeling

Patrick J. McMarr and J. R. Blanco
Applied Optics 27 (20) 4265 (1988)
https://doi.org/10.1364/AO.27.004265

Optical characterization of low-index transparent thin films on transparent substrates by spectroscopic ellipsometry

Kenneth M. Gustin
Applied Optics 26 (18) 3796 (1987)
https://doi.org/10.1364/AO.26.003796