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RAMAN SPECTROSCOPY CHARACTERIZATION OF POLYCRYSTALLINE GaP THIN FILMS GROWN BY MO-CVD PROCESS USING [Et₂Ga - PEt₂]₃ AS ONLY SOURCE

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Citations de cet article :

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Comportement à deux modes de Ga(x)In(1 - x)P ? Diffusion Raman résonnante par les modes rendus actifs par le désordre

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