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Damage at hydrogenated amorphous/crystalline silicon interfaces by indium tin oxide overlayer sputtering
Bénédicte Demaurex, Stefaan De Wolf, Antoine Descoeudres, Zachary Charles Holman and Christophe Ballif Applied Physics Letters 101(17) (2012) https://doi.org/10.1063/1.4764529
Defect creation by 10‐keV electron irradiation in phosphorous‐dopeda‐Si:H
Suvarna Babras, V. G. Bhide, N. R. Rajopadhye and S. V. Bhoraskar Journal of Applied Physics 67(6) 2800 (1990) https://doi.org/10.1063/1.345446