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Article cité :

ELECTROMIGRATION IN THIN FILMS : THE EFFECT OF SOLUTE ATOMS ON GRAIN BOUNDARY DIFFUSION

F.M. D'HEURLE

J. Phys. Colloques, 36 C4 (1975) C4-191-C4-199

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1975419

PDF (2.470 MB)

Citations de cet article :

Change Character of Conductivity in Metal–Insulator–Metal Thin Films

Viktor Burlakov, Oleksandr Filatov and Oleksandr Pogorelov
physica status solidi (b) 258 (4) (2021)
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Mechanical properties and microstructures of Al-1%Si thin film metallizations

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