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Article cité :

PRODUCTION DES DÉFAUTS PAR IRRADIATION DANS LES SEMI-CONDUCTEURS

J. C. BOURGOIN

J. Phys. Colloques, 34 C5 (1973) C5-49-C5-60

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1973511

PDF (2.984 MB)

Citations de cet article :

Fault Analysis and Evaluation of a True Random Number Generator Embedded in a Processor

Mathilde Soucarros, Jessy Clédière, Cécile Dumas and Philippe Elbaz-Vincent
Journal of Electronic Testing 29 (3) 367 (2013)
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5356-1