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Article cité :

ELECTROREFLECTANCE IN SURFACE PHYSICS

B. O. SERAPHIN

J. Phys. Colloques, 31 C1 (1970) C1-123-C1-134

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1970121

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Citations de cet article :

Optical and Morphological Characterization of Nanoscale Oxides Grown in Low-Energy H+-Implanted c-Silicon

Anna Szekeres, Sashka Alexandrova, Mihai Anastasescu, Hermine Stroescu, Mariuca Gartner and Peter Petrik
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Electroreflectance imaging of gold–H3PO4 supercapacitors. Part I: experimental methodology

Kerry Maize, Arpan Kundu, Guoping Xiong, et al.
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https://doi.org/10.1039/C5AN01972A