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Article cité :

ELECTROREFLECTANCE

B. O. SERAPHIN

J. Phys. Colloques, 28 C3 (1967) C3-73-C3-80

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1967315

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Citations de cet article :

Assessment of channel temperature in β-(AlxGa1−x)2O3/Ga2O3 heterostructure field-effect transistors using visible wavelength thermoreflectance thermal imaging

James Spencer Lundh, Georges Pavlidis, Kohei Sasaki, Andrea Centrone, Joseph A. Spencer, Hannah N. Masten, Marc Currie, Alan G. Jacobs, Keita Konishi, Akito Kuramata, Karl D. Hobart, Travis J. Anderson and Marko J. Tadjer
Applied Physics Letters 124 (5) (2024)
https://doi.org/10.1063/5.0177609

Electroreflectance of Disordered Germanium Films

H. Piller, B. O. Seraphin, K. Markel and J. E. Fischer
Physical Review Letters 23 (14) 775 (1969)
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.23.775