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Article cité :

BORRMANN TOPOGRAPHIC INVESTIGATION ON DISLOCATION CONFIGURATION IN WELL-ANNEALED AND LIGHTLY DEFORMED COPPER CRYSTALS

A. MERLINI, F. W. YOUNG, Jr.

J. Phys. Colloques, 27 C3 (1966) C3-219-C3-229

DOI: https://doi.org/10.1051/jphyscol:1966329

PDF (3.950 MB)

Citations de cet article :

Observation of dislocations in thick β-Ga2O3 single-crystal substrates using Borrmann effect synchrotron x-ray topography

Yongzhao Yao, Keiichi Hirano, Yoshihiro Sugawara, et al.
APL Materials 10 (5) (2022)
https://doi.org/10.1063/5.0088701