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J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C8, Novembre 1989
36th International Field Emission Symposium
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| Page(s) | C8-303 - C8-308 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989851 | |
J. Phys. Colloques 50 (1989) C8-303-C8-308
DOI: 10.1051/jphyscol:1989851
ATOM PROBE ANALYSIS OF THIN OXIDE LAYERS ON ZIRCALOY NEEDLES
B. WADMAN, H.-O. ANDRÉN et L.K.L. FALKDepartment of Physics, Chalmers University of Technology, S-412 96 Göteborg, Sweden
Résumé
Avec l'intention d'examiner l'interface oxyde-metal sur Zircaloy, des couches fines d'oxyde ont été formées sur des aiguilles de sonde atomique, dans l'air sèche pendant 1 jusqu'au 30 jours, et dans l'eau pendant 5 secondes. Ces couches d'oxyde tenant une épaisseur de 10 nm ont été analysées avec la sonde atomique. Le résultat des analyses indique que l'oxyde contient moins d'oxygène que ZrO stochiométrique. La microscopie électronique sur des aiguilles traitées à la même façon a prouvé que l'oxyde contient des crystallites d'oxyde dans une couche amorfe.
Abstract
Thin oxide layers have been grown on atom probe needles of Zircaloy in order to study the oxide-metal interface. The oxide was formed during one to thirty days in dry air, as well as during 5 s in boiling water. Atom probe analysis was performed of oxide layers thinner than 10 nm. These layers were found to contain low amounts of oxygen, less than stoichiometric ZrO. Transmission electron microscopy of equally treated specimens showed that the oxide was partially amorphous and contained small crystallites 5-10 nm in size.