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J. Phys. Colloques
Volume 50, Numéro C7, Octobre 1989
X-ray and Neutron Scattering from Surfaces and Thin FilmsProceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering |
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Page(s) | C7-21 - C7-22 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1989702 |
Proceedings of the International Conference on Surface and Thin Film studies using Glancing-Incidence X-ray and Neutron Scattering
J. Phys. Colloques 50 (1989) C7-21-C7-22
DOI: 10.1051/jphyscol:1989702
LIPID AND SIMPLE LIQUID SURFACES
J. ALS-NIELSENRisø National Laboratory, DK-4000 Roskilde, Denmark
Résumé
La réflectivité des rayons X sur une surface liquide en incidence rasante à des angles α supérieurs à l'angle αc de réflexion totale fournit des informations détaillées sur le profil de densité électronique moyenne ρ(z) au niveau de la surface. On montre aisément1 que le rapport de la réflectivité observée R(α) sur la réflectivité de Fresnel RF(α), qui correspond à un profil de densité infiniment abrupt, est donné par la transformée de Fourier du gradient de densité ρ(z) : R(α) / RF(α) = | ∫ρ'(z) exp(iQz) dz|2 où Q = 2k sin α est le transfert de vecteur d'onde pour la réflexion spéculaire. La méthode a été utilisée pour étudier : (i) la rugosité thermique des liquides simples2 (ii) l'ordre smectique des cristaux liquides3,4,5 (iii) les monocouches d'acides gras6, de surfactants7, de phospholipides8 sur l'eau et les micro-émulsions9. On peut renforcer le contraste entre la monocouche, la phase sous-jacente ou des parties spécifiques de molécules en remplaçant les rayons X par des neutrons thermiques, après substitution isotopique10. La réflectivité des neutrons est également sensible au magnétisme de surface. Les structures dans le plan6,7,8 peuvent être obtenues par diffraction en incidence rasante pour des angles α proches de αc.
Abstract
X-ray reflectivity of a liquid surface at glancing angles α well beyond the glancing angle αC for total reflection yields detailed information about the average electron density profile ρ(z) across the surface. It is easily shown1 that the ratio of the observed reflectivity R(α) and the Fresnel reflectivity RF(α) corresponding to an infinitely sharp density profile measures the Fourier transform of the density gradient ρ'(z) : R(α)/RF(α) = |∫ρ'(z)exp(iQz) dz|2 with Q = 2ksinα being the wave vector transfer at specular reflection. The method has been used to investigate (i) thermal roughness of simple liquids2 (ii) smectic layering of liquid crystals3,4,5 (iii) monolayers on water of fatty acids6, surfactants7, phospholipids8 and of microemulsions9 Using thermal neutrons beams in stead of X-rays one can enhance the contrast between monolayer and subphase and of specific parts of molecules by isotope substitution10. Neutron reflectivity is also sensitive to surface magnetism. In-plane structures6,7,8 can be deduced from grazing incidence diffraction for α near αC.