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J. Phys. Colloques
Volume 48, Numéro C9, Décembre 1987
X-Ray and Inner-Shell ProcessesVol. 1 |
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Page(s) | C8-661 - C8-664 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19879114 |
Vol. 1
J. Phys. Colloques 48 (1987) C8-661-C8-664
DOI: 10.1051/jphyscol:19879114
RELATIVE INTENSITIES OF DIAGRAM AND SATELLITE L-X-RAYS FOR ELEMENTS Z=37÷56
J.Q. XU1 and E. ROSATO21 Shanghai Institute of Nuclear Research. Academia Sinica, Shanghai, China
2 Dipartimento di Fisica Nucleare, Struttura della Materia e Fisica Applicata, Universita di Napoli and Istituto Nazionale di Fisica Nucleare, Sezione di Napoli, Mostra dlOltremare, Pad 20, I-80125 Napoli, Italy
Résumé
On prèsente un modèle qui permet d'interpreter les intensités relatives des raies X du spectre L et des bandes satellites consecutives à l'ionisation du niveau atomique L pour Z=37÷56.Ce modèle tient compte des états à plusieurs trous provoqués par des processus de shakeoff et de Coster-Kronig. Les bandes satellites sont classées selon le nombre et la position des trous additionels. Les largeurs de niveau, les rendements de fluorescence et de Coster-Kronig ont eté determinés pour la sous-couche L1. Les résultats sont comparés avec les données theoriques, experimentales et semiempiriques disponibles dans la litterature.
Abstract
A model, which takes into account multiple-hole configuration produced by shakeoff and Coster-Kronig processes, is discussed for interpreting relative intensities of satellite and diagram x-rays following L-shell ionization for Z=37÷56. The satellites are classified according to the number and the location of additional vacancies. L1 -subshell level widths, fluorescence yields and Coster-Kronig transition rates are obtained. The results are compared with theoretical and semiempirical data available from the literature.