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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C2, Mars 1986
32 nd International Field Emission Symposium / 32ème Symposium International d'Emission de Champ
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| Page(s) | C2-479 - C2-484 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986273 | |
32 nd International Field Emission Symposium / 32ème Symposium International d'Emission de Champ
J. Phys. Colloques 47 (1986) C2-479-C2-484
DOI: 10.1051/jphyscol:1986273
Fritz-Haber Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 4-6, D-1000 Berlin 33, F.R.G.
J. Phys. Colloques 47 (1986) C2-479-C2-484
DOI: 10.1051/jphyscol:1986273
COMPUTERIZED IMAGING SYSTEM FOR FIELD ION MICROSCOPY
Th. SCHILLER, U. WEIGMANN, S. JAENICKE et J.H. BLOCKFritz-Haber Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 4-6, D-1000 Berlin 33, F.R.G.
Résumé
Un détecteur qui détermine deux coordonnées d'impact d'un ion a été utilisé en microscopie des ions de champs. Les possibilités de ce système ont été démontrées par deux expériences : 1) l'évaporation de champs 2) l'enregistrement d'une image des ions de champs caractérisés par un temps de vol sélectionné, la plage de détection étant réduite a quelques nano-secondes.
Abstract
A position sensitive detector is used to accumulate field ion images directly from the two dimensional density distribution of the imaging ions. The capabilities of this new system will be demonstrated with field evaporation and in a gated time of flight experiment with nanosecond resolution.