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J. Phys. Colloques
Volume 47, Numéro C1, Février 1986
Thirteenth International Conference on Science of Ceramics
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Page(s) | C1-563 - C1-567 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1986185 |
J. Phys. Colloques 47 (1986) C1-563-C1-567
DOI: 10.1051/jphyscol:1986185
A FRACTOGRAPHIC STUDY OF ELECTRICAL PORCELAINS CONTAINING ALUMINA
E. CARLSTRÖM et R. CARLSSONSwedish Institute for Silicate Research, Box 5403, S-402 29 Göteborg, Sweden
Résumé
Des porcelaines électrotechniques ont été étudiées à l'aide d'examens fractographiques. Les défauts initiateurs de la rupture sont typiquement des grains de quartz pour une porcelaine extrudée à basse teneur en alumine et des pores pour une porcelaine pressée isostatique à haute teneur en alumine. La constante du miroir de rupture a été déterminée à 1.0 MN/m3/2 et la valeur des contraintes résiduelles évaluée vers 90 MPa pour cette dernière.
Abstract
Electrical porcelains have been studied using fractographic methods. Typical strength controlling defects were quartz grains for an extruded low-alumina porcelain and pores for an isostatically pressed high-alumina porcelain. The fracture mirror constant was measured to 1.0 MN/m3/2 and the residual stress was estimated to approximately 90 MPa for the isostatically pressed porcelain.