| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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|---|---|---|
| Page(s) | C2-189 - C2-192 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984243 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-189-C2-192
DOI: 10.1051/jphyscol:1984243
Okayama University of Science, Ridai-cho, Okayama, 700 Japan
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-189-C2-192
DOI: 10.1051/jphyscol:1984243
THE INTENSITY ENHANCEMENT OF X-RAYS REFLECTED BY AN ANALYZING CRYSTAL MADE OF A THIN FILM
T.S. UragamiOkayama University of Science, Ridai-cho, Okayama, 700 Japan
Résumé
La variation avec l'épaisseur de l'intensité de l'onde diffractée est étudiée dans des lames minces de cristal parfait en appliquant la théorie dynamique développée par Takagi.
Abstract
Thickness dependence of the intensity of the diffracted wave is studied in thin films of perfect crystal by using the dynamical theory developed by Takagi.