| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-175 - C2-180 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984240 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-175-C2-180
DOI: 10.1051/jphyscol:1984240
Link Systems Ltd, Halifax Road, High Wycombe, Bucks HP12 3SE, U.K.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-175-C2-180
DOI: 10.1051/jphyscol:1984240
ACCURACY, REPRODUCIBILITY AND SCOPE FOR X-RAY MICROANALYSIS WITH Si(Li) DETECTORS
P.J. StathamLink Systems Ltd, Halifax Road, High Wycombe, Bucks HP12 3SE, U.K.
Résumé
On discute de l'état actuel de la microanalyse par rayons X, plus particulièrement de la précision et des limites de détection, des corrections dues aux superpositions de pics et de l'utilisation des détecteurs sans fenêtres.
Abstract
The current state of the art for x-ray microanalysis is discussed with particular reference to accuracy and limits of detection, corrections for peak overlap and use of "windowless" detectors.