| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
|
|---|---|---|
| Page(s) | C2-77 - C2-81 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:1984219 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-77-C2-81
DOI: 10.1051/jphyscol:1984219
Universität Göttingen, Forschungsgruppe Röntgenmikroskopie, Geismarlandstrasse 11, 34 Göttingen, F.R.G.
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-77-C2-81
DOI: 10.1051/jphyscol:1984219
HIGH RESOLUTION X-RAY MICROSCOPY WITH ZONE PLATE MICROSCOPES
G. Schmahl, D. Rudolph et B. NiemannUniversität Göttingen, Forschungsgruppe Röntgenmikroskopie, Geismarlandstrasse 11, 34 Göttingen, F.R.G.
Résumé
Des expériences de microscopie par rayons X ont été réalisées à l'aide d'un microscope à rayons X installé sur l'anneau de stockage BESSY à Berlin.
Abstract
X-ray microscopy experiments are described which have been performed with an x-ray microscope at the electron storage ring BESSY in Berlin.