| Numéro |
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis |
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| Page(s) | C2-673 - C2-678 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842156 | |
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-673-C2-678
DOI: 10.1051/jphyscol:19842156
1 IRSID, 78105 Saint-Germain-en-Laye Cedex, France
2 ETCA, 94114 Arcueil Cedex, France
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-673-C2-678
DOI: 10.1051/jphyscol:19842156
IDENTIFICATION ET ANALYSE DES PHASES DANS LES ACIERS AU MOYEN DE L'ÉMISSION IONIQUE SECONDAIRE
R. Namdar1, D. Loison1 et R. Tixier1, 21 IRSID, 78105 Saint-Germain-en-Laye Cedex, France
2 ETCA, 94114 Arcueil Cedex, France
Résumé
Les possibilités d'utiliser l'émission ionique secondaire pour l'étude des phénomènes de précipitation de certains éléments dans l'acier sont montrées. La mise à profit de l'effet de liaison chimique a permis d'établir des courbes d'étalonnage. Ces courbes sont utilisées pour la mesure de taux de précipitation de Nb, de Al, de V et de C, dans les aciers au C ou microalliés.
Abstract
The possibilities of SIMS for studying the precipitation of some elements in steel have been shown. Calibration curves based on the chemical binding effect are determined for different elements. These curves are used to rneasure the fraction of Nb, Al, V and C precipitated in microalloyed and carbon steels.