Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 45, Numéro C2, Février 1984
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis
Page(s) C2-499 - C2-501
DOI https://doi.org/10.1051/jphyscol:19842113
10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse
10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

J. Phys. Colloques 45 (1984) C2-499-C2-501

DOI: 10.1051/jphyscol:19842113

ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS OF SOUND AND PITTED TISSUES OF APPLE FRUIT AFFECTED WITH BITTER PIT

A. Chamel1, P. Bondoux2 et J.P. Bossy1

1  Laboratoire de Biologie Végétale, Département de Recherche Fondamentale, Centre d'Etudes Nucléaires, 85 X, 38041 Grenoble Cedex, France
2  Station de Pathologie Végétale, I.N.R.A., Beaucouzé, 49000 Angers, France


Résumé
Les concentrations de K, Ca, Mg, P, S et Cl ont été comparées dans les tissus sains et malades de 5 variétés de pommes, atteintes de bitter pit. Mg, Ca et à un moindre degré S étaient présents à des concentrations plus élevées dans les zones malades par rapport aux zones saines. Les résultats concernant les autres éléments étaient variables et dépendaient de la variété.


Abstract
The concentrations of the minera1 elements K, Ca, Mg, P, S and Cl have been compared in pitted and sound tissues of mature fruits of five apple cultivars. Mg, Ca and to a lesser extent S are present in higher concentrations in pitted areas than in non-pitted ones. The results concerning the other elements vary and depend on the cultivar.