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J. Phys. Colloques
Volume 44, Numéro C10, Décembre 1983
Conférence Internationale sur Ellipsométrie et autres Méthodes Optiques pour l'Analyse des Surfaces et Films Minces / Ellipsometry and other Optical Methods for Surface and Thin Film Analysis
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| Page(s) | C10-501 - C10-503 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:198310102 | |
J. Phys. Colloques 44 (1983) C10-501-C10-503
DOI: 10.1051/jphyscol:198310102
RAMAN SPECTROSCOPY IN GUIDED OPTICAL WAVES
J.D. Swalen et J.F. RaboltIBM Research Laboratory, 5600 Cottle Road, K32/281, San Jose, California 95193, U.S.A.
Résumé
Nous avons obtenu et analysé les spectres Raman de polymères en films minces et de la région interfaciale entre des films de polymères lamellaires, en couplant le faisceau laser avec un guide d'onde optique par l'intermédaire d'un prisme. Des informations sur les orientations et la répartition des molécules sont obtenues en modifiant les modes et la polarisation du champ électromagnétique incident. Nous présentons les résultats concernant différents films et leurs interactions interfaciales.
Abstract
By coupling laser light with a prism into an optical waveguide, we have observed and analyzed Raman spectra of thin polymer films, and of the interfacial region between laminate polymer films. Both orientational and spatial informations are obtained by optical fields for different modes and polarizations. Results on various films and their interfacial interactions will be presented.