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J. Phys. Colloques
Volume 40, Numéro C7, Juillet 1979
XIVe Conférence Internationale sur les Phénomènes d'Ionisation dans les Gaz / XIVth International Conference on Phenomena in Ionized Gases
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| Page(s) | C7-807 - C7-808 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphyscol:19797389 | |
XIVe Conférence Internationale sur les Phénomènes d'Ionisation dans les Gaz / XIVth International Conference on Phenomena in Ionized Gases
J. Phys. Colloques 40 (1979) C7-807-C7-808
DOI: 10.1051/jphyscol:19797389
Moscow State University, Department of Physics, Moscow U.S.S.R.
J. Phys. Colloques 40 (1979) C7-807-C7-808
DOI: 10.1051/jphyscol:19797389
FINITE THICKNESS EFFECT OF PROBE SHEATH IN RADIO-FREQUENCY PLASMA PROBE DIAGNOSTICS
V.A. Godyak et S.N. OxMoscow State University, Department of Physics, Moscow U.S.S.R.
Without abstract
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