DETERMINATION OF THE THERMAL RESISTANCE OF A NORMAL-SUPERCONDUCTOR INTERPHASE BOUNDARY IN HIGH-PURITY LEAD

Résumé
Nous avons mesuré la conductivité thermique d'une structure lamellaire statique d'état intermédiaire, contrôlée optiquement, dans le cas où le courant de chaleur est (presque) perpendiculaire aux frontières de phase. Nous en avons déduit la résistance thermique d'une interface Normal-Supraconducteur avec une bonne précision. Ces résultats sont en bon accord avec les calculs d'Andreev dans le cas où la conduction thermique est principalement due aux électrons. A des températures plus basses, nous obtenons des valeurs inférieures à celles d'Andreev, et nous devons tenir compte de la valeur plus faible du libre parcours moyen des phonons dans les lamelles supraconductrices.

Abstract
The thermal conductivity of a regular, optically-controlled intermediate-state structure has been measured in high-purity lead, the heat current being (nearly) perpendicular to the (static) interphase boundaries. The thermal resistance of a n-s boundary is calculated from the measurements with a good accuracy. The results agree fairly with a theoretical calculation by Andreev in the case of electronic heat conduction, but at lower temperatures the measured values are smaller than predicted by Andreev ; in the latter case, the limitation of phonon mean free path in the s-lamellas has to be taken into account.