Numéro
J. Phys. Colloques
Volume 32, Numéro C1, Février 1971
EXPOSÉS et COMMUNICATIONS présentés à la 7ème CONFÉRENCE INTERNATIONALE DE MAGNÉTISME 1970
Page(s) C1-150 - C1-152
DOI http://dx.doi.org/10.1051/jphyscol:1971149
EXPOSÉS et COMMUNICATIONS présentés à la 7ème CONFÉRENCE INTERNATIONALE DE MAGNÉTISME 1970

J. Phys. Colloques 32 (1971) C1-150-C1-152

DOI: 10.1051/jphyscol:1971149

FINE PARTICLES' AND FAST RELAXERS' INFLUENCE ON THE MAGNETIC RF THRESHOLD FIELDS AND LOSSES IN YIG

C. BORGHESE and R. ROVEDA

Research Department, Selenia S. p. A., Roma 00131, Italy


Résumé
On donne les résultats de l'étude des séries d'échantillons de YIG : 1. dopés avec terres rares à grains gros ; 2. à grains fins et 3. dopés avec terres rares, à grains fins . DHk augmente très rapidement avec DHeff à champ faible pour les matériaux YIG à grains fins, tandis que DHk se comporte linéairement avec pente = 1/2 pour les matériaux dopés avec terres rares, à grains gros. ||herit obéit à une loi du type x-1 pour YIG, approximativement du type x-0.4 pour 0.03 Sm3+-YIG. On a aussi essayé d'en donner une simple explication. F*, le facteur de mérite à haute puissance crête, croît de 2,7 à 12,5 lorsque x décroît de 14 à 1 micron pour YIG.


Abstract
Three series of samples are examined : 1. coarse grained, rare earth-doped YIG ; 2. fine grained YIG and 3. fine grained, rare earth-doped YIG. ⊥ DHk increases very rapidly with low-field DHeff in the fine grained YIG, as compared with the linear, 1/2-slope in coarse grained, rare earth-doped YIG. ||herit behaves as x-1 in YIG, as x-0.4 in 0.03 Sm3+-doped YIG. A simple tentative explanation is given. The high power figure of merit, F*, raises from 2.7 to 12.5 on passing from a 14-micron to a 1-micron YIG sample.